PCT高壓加速老化試驗箱(又名PCT老化試驗箱)是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間,主要是模擬氣候環境測試產品在不同溫度、濕度及壓力下密封性、氣密性的試驗設備。其廣泛應用于電子器件、汽車零配件、塑膠、線路板、IC、LCD、LED、磁鐵等行業。
PCT高壓加速老化試驗箱最主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。
PCT高壓加速老化試驗機壓力與溫度對照表
壓力 |
溫度 |
壓力 |
溫度 |
0.5 ㎏/ cm2 |
110℃ |
1.5 ㎏/ cm2 |
127℃ |
1.0 ㎏/ cm2 |
121℃ |
2.0 ㎏/ cm2 |
132℃ |
溫度偏差±1℃,壓力偏差±0.15㎏/ cm2 |